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FZ—A輻照計（SP00007031）是一款便攜式自動量程的測試儀器。它采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)，可以用來測量可見光輻照度，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個領(lǐng)域。
紫外線含量檢測儀（SP00007030）基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。儀器集測量紫外線含量、照度和紫外輻照度三種功能于一體，可應(yīng)用于圖書、檔案、文物等部門對照明光源中紫外線含量的檢測工作。
紫外/可見光照度計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。儀器集紫外輻照度測量和照度測量兩種功能于一體，廣泛應(yīng)用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個領(lǐng)域。
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV—340紫外輻照計（SP00007025）適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
HS6020A型聲校準(zhǔn)器主要適用于傳聲器、聲級計、噪聲分析儀等聲學(xué)測量儀器聲壓靈敏度校準(zhǔn)。它體積小，重量輕，性能穩(wěn)定，使用方便。它符合IEC942及GB/T 15173“”中Ⅰ級校準(zhǔn)器的技術(shù)要求。
自動量程UVB-313 用于*的加速試驗（加速老化）。UVB波長280nm~315nm，UVB-313可以很快地提供試驗結(jié)果。它們所采用的短波長UV比目前地球表面上通常找到的UV光波更為強(qiáng)烈。盡管這些比自然波長短許多的UV光卻能夠*地加速試驗，它的發(fā)光光譜能量主要集中在313nm的波長處，UVB-313 用于*的加速試驗（加速老化）。
自動量程
